EDXRF based X ray scanning and chemometry based quantification of silica aluminum

EDXRF based X ray scanning and chemometry based quantification of silica aluminum

NOVELTY – EDXRF based X ray scanning and chemometry based quantification of silica aluminum contents consists of a non destructive economical technique

Main Application Field

E36 (Non-metallic elements, semi-metals (Se, Te, B, Si) and their compounds (except for E35).); S03 (Scientific Instrumentation)

Analysis of biological materials, Biotechnology

INVENTORS:

BUENO MARIA IZABEL MARETTI SIL
GORAIEB KAREN
COLLINS KENNETH ELMER

73_ALUMÍNIO

Patent number: BR200502861-A

PATENT STATUS:

GRANTED

FOR ADDITIONAL INFORMATION:

parcerias@inova.unicamp.br

+55 (19) 3521-5207 / 2607

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Engenharia Civil / Medição

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73_ALUMÍNIO

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Caixa Postal 6131

CEP 13.083-970

Campinas/SP

Endereço para visitas

Dr. Ricardo Benetton Martins, s/n

Bosque das Palmeiras, Campinas – SP

CEP: 13.086-902